SPSR-2030(200-3000nm) 超纯分光光谱辐射扫描测量系统
高精度双单色光谱仪
200nm-3000nm超纯超细全光谱扫描
典型应用场景
远方SPSR-2030 超纯分光光谱辐射扫描测量系统凝聚远方公司三十余年光谱测量技术研发生产经验，将专利技术与实用场景 深度融合，具有波长精度高，带宽小，杂散光低等特点，增加适当配件可快速组成光谱功率分布、光谱辐射通量、 光谱辐射照度、光谱辐射亮度等各类专用测试系统，实现一站式多功能测试。广泛应用于科研院所、质检及计量机构和中高端实验 室等高精度测量应用场合。
主要特点
一、一体化设计，自动扫描测量
一体化结构设计，探测器全自动切换，全程无手动，自动扫描测量，操作简单高效，运行稳定可靠。
二、全波段范围高精度测量，光谱分辨率和波长精度高
凝聚远方三十余年光谱测量技术研发生产经验，数十项专利技术，200nm-3000nm 全波段的光谱法测量，无光谱匹配误差，扫描间隔小，光谱分辨率最高可达2nm, 波长精度最高可达0.1nm, 更利于窄带光源测量。
三、独特的同轴对称双单色仪技术
采用同轴对称双单色仪技术，彻底消除了两个光栅的扫描同步误差，配合远方多项杂散光校正技术专利，使系统杂散光控制在10E-8极低的水平，其综合性能远优于传统的单色仪机械扫描光谱仪。
四、功能强大，应用面广
增配附件可实现用光谱法测量辐射通量、辐射照度、辐射亮度等参数，适用于光辐射安全测量、计量检测、科研院所等高端应用场合。
五、脉冲光源光辐射精确测量
针对脉冲光源、间隙发光光源，可实现紫外可见近红外的脉冲光谱捕捉和高精度测量。
六、参照国际标准设计， NIM和NIST溯源
设计和测量原理参照CIE等国际标准，量值可溯源至中国国家计量院(NIM) 和美国NIST, 量值溯源精度高。
主要技术指标
| 型 号 | SPSR-2030 | |
| 光谱测量范围 | 200nm-3000nm | |
| 半峰带宽 | 最高2nm | |
| 波长准确度 | 最高0.2nm | |
| 杂散光 | 最低至10⁻⁸ | |
| 辅助功能 | 增配附件可实现辐射通量、辐射照度、辐射亮度等测量功能 | |
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